[发明专利]一种功能解析和机理分析的故障判据确定方法有效

专利信息
申请号: 201310196622.1 申请日: 2013-05-24
公开(公告)号: CN103268273A 公开(公告)日: 2013-08-28
发明(设计)人: 杨军;湾梦雅;费思邈;赵宇 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06F11/26 分类号: G06F11/26
代理公司: 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 代理人: 王顺荣;唐爱华
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种功能解析和机理分析的故障判据确定方法,其步骤如下:(一)针对于产品进行系统层次划分,确定最低层次的故障主体及其功能;该“系统层次划分”是指将系统依次分解为子系统、部件,直到最小分析单元;“最低层次”是指能获得技术要求的最低层次;(二)通过故障模式影响分析及征询专家意见,寻找可能的故障模式及故障机理,分析它们之间的相关关系,建立故障模式和故障机理相关矩阵;(三)针对于不同的功能衰变模式进行分类,结合步骤二中已建立的故障模式和故障机理相关矩阵,并考察其中的故障模式是否可测,其中分类及对应的可测性分析进行完毕后,从而确定故障判据。该方法具有广泛适用性,得到最合适的故障判据,具有良好的应用价值。
搜索关键词: 一种 功能 解析 机理 分析 故障 判据 确定 方法
【主权项】:
一种功能解析和机理分析的故障判据确定方法,其特征在于:该方法的具体实施步骤如下:步骤一:针对于预定产品进行系统层次划分,确定出最低层次的故障主体以及对应的功能;其中“系统层次划分”是指将系统依次分解为子系统、部件,直到最小的分析单元;“最低层次”是指能够获得明确的技术要求的最低层次;步骤二:通过故障模式影响分析即FMEA及征询相关领域专家意见,寻找所有可能的故障模式及故障机理,分析它们之间的相关关系,建立故障模式和故障机理相关矩阵;步骤三:针对于不同的功能衰变模式进行分类,结合步骤二中已建立的故障模式和故障机理相关矩阵,并考察其中的故障模式是否可测,其中分类及对应的可测性分析内容如下所述,从而确定故障判据:①退化型功能衰变:功能衰变有明显的退化趋势,且退化量在条件约束范围之内可测,则直接根据定义或阈值确定故障判据;②突变型功能衰变:功能衰变没有明显痕迹,而有突变的特征,则需要通过之前建立的故障模式和故障机理相关矩阵来把功能的衰变转化为条件约束范围内的性能衰变作为故障判据,否则只能把功能衰变的结果作为故障判据;③间歇型功能衰变:功能衰变没有明显痕迹,但有间歇性发生的特征,可以看它是否能够转化为可检测的参数值。
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