[发明专利]在拼接式集成成像显示器中校正三维图像的方法和设备

摘要

提供了一种在拼接式集成成像显示器（T‑IID）中校正三维图像的方法和设备，所述方法包括：使用拍摄单元在固定位置对在T‑IID中的LCD上显示的结构光图像进行拍摄；使用拍摄的结构光图像对T‑IID的几何模型进行标定，其中，T‑IID的几何模型包括T‑IID中的各个透镜阵列相应对LCD的旋转和平移参数；根据标定的T‑IID的几何模型，通过模拟在T‑IID中的光学成像过程，产生符合在T‑IID中的光学成像过程的光线模型；使用产生的光线模型来渲染单元图像阵列（EIA）图像，从而产生能够正确显示三维图像的EIA图像。所述方法和设备可有效地去除由于成像显示单元位置对齐误差造成的三维图像失真，同时可降低对系统硬件制造精度的要求，从而削减系统制造的成本。

主权项

1.一种在拼接式集成成像显示器T‑IID中校正三维图像的方法，所述方法包括：使用拍摄单元在固定位置对在T‑IID中的LCD上显示的结构光图像进行拍摄；使用拍摄的结构光图像对T‑IID的几何模型进行标定，其中，T‑IID的几何模型包括T‑IID中的各个透镜阵列相对于LCD的旋转和平移参数；根据标定的T‑IID的几何模型，通过模拟在T‑IID中的光学成像过程，产生符合在T‑IID中的光学成像过程的光线模型；使用产生的光线模型来渲染单元图像阵列EIA图像，从而产生能够正确显示三维图像的EIA图像，其中，对T‑IID的几何模型进行标定的步骤包括：提取主观察光线POR像素，并基于提取的POR像素来计算每个透镜阵列相对于LCD的旋转和平移参数，其中，POR是指由拍摄单元拍摄到的穿过透镜光心的光线。