[发明专利]一种消除干涉环的超微型光学相干断层成像探头无效

专利信息
申请号: 201310164264.6 申请日: 2013-05-07
公开(公告)号: CN103239210A 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: 米磊;刘钊;朱锐 申请(专利权)人: 深圳市中科微光医疗器械技术有限公司
主分类号: A61B5/00 分类号: A61B5/00
代理公司: 广东星辰律师事务所 44263 代理人: 陈良
地址: 518055 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及医疗器械技术领域,提供了一种消除干涉环的超微型光学相干断层成像探头,所述探头包括单模光纤部分、梯度折射率透镜部分和反射棱镜部分,所述梯度折射率透镜部分黏贴于单模光纤部分一端,所述反射棱镜部分黏贴于梯度折射率透镜部分一端,且所述梯度折射率透镜部分的光程大于5mm。本发明一方面在既不消除反射面也不增大反射面角度的情况下,将反射光的距离拉远,使得产生的干涉环超出图像的显示范围,进而使反射光弱到不产生干涉现象,另一方面可以同时满足尺寸小于250um以及消除多次反射产生的干涉环的优点。
搜索关键词: 一种 消除 干涉 微型 光学 相干 断层 成像 探头
【主权项】:
一种消除干涉环的超微型光学相干断层成像探头,其特征在于:所述探头包括单模光纤部分(13)、梯度折射率透镜部分(23)和反射棱镜部分(33),所述梯度折射率透镜部分(23)黏贴于单模光纤部分(13)一端,所述反射棱镜部分(33)黏贴于梯度折射率透镜部分(23)一端,且所述梯度折射率透镜部分(23)的光程大于5mm。
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