[发明专利]一种交流供电电源掉电检测电路及检测方法有效

专利信息
申请号: 201310156538.7 申请日: 2013-05-02
公开(公告)号: CN103257272A 公开(公告)日: 2013-08-21
发明(设计)人: 潘天红;盛占石;陈山 申请(专利权)人: 江苏大学
主分类号: G01R25/00 分类号: G01R25/00
代理公司: 南京知识律师事务所 32207 代理人: 李媛媛
地址: 212013 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种交流供电电源掉电检测电路及检测方法。检测电路包括由限流电阻R1、保护二极管D1与发光二极管D2构成的半波整形电路,限流电阻R1的一端连接交流电源Ui的输入端;另一端与保护二极管D1的阳极相连,保护二极管D1的阴极与发光二极管D2的输入端相连,发光二极管D2的另一端接模拟地;所述光敏三极管T1的发射极接数字地,其集电极连接微处理器MCU的外部中断口INT0,并通过限流电阻R2与直流电源Vcc相连。本发明将交流电源直接施加在限流电阻与发光二极管所构成的串联电路上,可避免传统检测方法受供电交流电源的电压幅值的影响,适用性强。
搜索关键词: 一种 交流 供电 电源 掉电 检测 电路 方法
【主权项】:
一种交流供电电源掉电检测电路,包括半波整形电路、微处理器MCU、光敏三极管T1和限流电阻R2,其特征在于,所述半波整形电路由限流电阻R1、保护二极管D1与发光二极管D2构成,限流电阻R1的一端连接交流电源Ui的输入端;另一端与保护二极管D1的阳极相连,保护二极管D1的阴极与发光二极管D2的输入端相连,发光二极管D2的另一端接模拟地;所述光敏三极管T1的发射极接数字地,其集电极连接微处理器MCU的外部中断口INT0,并通过限流电阻R2与直流电源Vcc相连。
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