[发明专利]一种X荧光光谱分析用标准样品的制备方法无效
| 申请号： | 201310135254.X | 申请日： | 2013-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN103245538A | 公开（公告）日： | 2013-08-14 |
| 发明（设计）人： | 刘晓丽 | 申请（专利权）人： | 广州赛宝计量检测中心服务有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 | 代理人： | 齐永红 |
| 地址： | 510000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种X荧光光谱分析用标准样品的制备方法，其制备步骤包括：a、熔融：将基材加热至熔融温度后，加入待测样品，基材与待测样品混合分散均匀后，将混合物板材放入模具中，并将混合物板材与模具间用聚酯膜隔开；b、压片成型：135～145℃下将模具中的混合物板材压片成型后，经冷却定型及机械切割，制得样品。采用本发明的方法，可制备目标元素质量百分含量为ppm级的X荧光光谱分析用标准样品，制备的样品表面光滑，内部无气泡，具有良好的均匀性与稳定性，符合ROHS分析用标准样品的量值要求，且具有一定的浓度梯度分布，能达到一级标准物质对特性量均匀性、稳定性的要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 荧光 光谱分析 标准 样品 制备 方法 | ||
【主权项】：
一种X荧光光谱分析用标准样品的制备方法，其特征在于，包含以下制备步骤：a、熔融：将基材加热至熔融温度后，加入待测样品，基材与待测样品混合分散均匀后，将混合均匀的混合物板材放入模具中，混合物板材与模具间用聚酯膜隔开；b、压片成型：135～145℃下将模具中的混合物板材压片成型后，经冷却定型及机械切割，制得样品。
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