[发明专利]一种抑制二次电子放射系数的方法无效

专利信息
申请号: 201310126384.7 申请日: 2013-04-12
公开(公告)号: CN103208408A 公开(公告)日: 2013-07-17
发明(设计)人: 武洪臣;朱彦海;赵青;王加梅;马国佳;孙刚 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司北京航空制造工程研究所
主分类号: H01J25/34 分类号: H01J25/34;H01J23/027;H01J9/14
代理公司: 中国航空专利中心 11008 代理人: 李建英
地址: 100024*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于涂层技术,涉及一种用于微波器件抑制二次电子放射系数的方法。(1)选取基体材料的功函数值,(2)根据涂层材料的功函数值选择涂层材料,涂层材料的功函数值大于基体材料的功函数值,φ涂≥φ基00.45~1.5eV(3)根据基体材料二次电子发射系数的抑制要求,在基体上将所选择的涂层材料制备成涂层。本发明通过该方法可方便快捷地确定可选的涂层材料,可节省相应的涂层制备工艺试验的工作量,进而节省了材料费用、工艺成本以及缩短试验周期。并且该方法适用于溅射沉积、电镀、化学镀等多种工艺手段在基体表面制备薄膜或涂层。涂层厚度可根据二次电子发射系数抑制幅度,在100~1500nm(视表面粗糙度)的较大范围内变化。
搜索关键词: 一种 抑制 二次电子 放射 系数 方法
【主权项】:
一种抑制二次电子发射系数的方法,其特征是,(1)选取基体材料的功函数值,(2)根据涂层材料的功函数值选择涂层材料,涂层材料的功函数值大于基体材料的功函数值,φ涂≥φ基+0.45~1.5eV(3)根据基体材料二次电子发射系数的抑制要求,在基体上将所选择的涂层材料制备成涂层。
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