[发明专利]一种相似材料模型变形的光学图像监测方法

摘要

本发明涉及一种相似材料模型变形的光学图像监测方法，监测方法的具体步骤为，将相似材料模型嵌放在相似材料模型架上，并将一系列发光二极管装到相似材料模型上；在相似材料模型架后面放置一个贴有白纸的光屏，在光屏上贴有同心圆控制点；把聚光镜装在聚光镜支架上；在相似材料模型架上面放置摄像机支架，再在摄像机支架上架设摄像机；使用数据线将摄像机与电脑连接；电脑中处理程序对图像进行识别提取，从而获得光斑的位置及位移量。该监测方法可以通过常规数码照相、聚光镜放大成像和图像处理技术来实现全自动高精度实时地监测，并可以及时获取试验过程的监测数据，获取的数据更加精确，不需要人为干预，节省了大量人力和时间。

主权项

一种相似材料模型变形的光学图像监测方法，其特征在于，该监测方法的具体步骤为，将相似材料模型（10）嵌放在相似材料模型架（9）上，并将一系列发光二极管（5）装到相似材料模型（10）上；在相似材料模型架（9）后面放置一个贴有白纸的光屏（12），在光屏（12）上贴有同心圆控制点（8）；把聚光镜（6）装在聚光镜支架（7）上，调节聚光镜（6）与相似材料模型（10）的距离为5cm‑15cm，并使发光二级管（5）投射在光屏（12）的光斑聚焦清晰；在相似材料模型架（9）上面放置摄像机支架（2），再在摄像机支架（2）上架设摄像机（3），通过调节摄像机支架（2）使摄像机（3）正对光屏；使用数据线（1）将摄像机（3）与电脑连接，从而使摄像机（3）中图像实时传送到电脑中处理；电脑中处理程序对图像进行识别提取，从而获得光斑的位置及位移量。