[发明专利]热分析装置有效

专利信息
申请号: 201310070923.X 申请日: 2013-03-06
公开(公告)号: CN103308416A 公开(公告)日: 2013-09-18
发明(设计)人: 长泽宽治;山田健太郎;西村晋哉 申请(专利权)人: 精工电子纳米科技有限公司
主分类号: G01N5/04 分类号: G01N5/04;G01N1/44
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 肖日松;杨楷
地址: 日本千叶*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供能够观察热分析中的样品变化的热分析装置。一种热分析装置(100),具备:由透明材料构成的炉管(9);加热炉(3);样品保持设备(41、42),配置于炉管的内部;第一支撑台(12);第二支撑台(14);炉管固定部(16),将炉管固定于第一支撑台;加热炉固定部(18),将加热炉固定于第二支撑台;测定室(30),连接至炉管;第一移动设备(22),使第一支撑台和第二支撑台在炉管连接至测定室的测定位置与样品保持设备比炉管和加热炉更露出至后端侧的样品安置位置之间移动;以及第二移动设备(24),在加热炉前进且炉管露出的样品观察位置仅使第二支撑台移动。能够从露出的炉管的外侧观察样品。
搜索关键词: 分析 装置
【主权项】:
一种热分析装置,具备:炉管,其由透明材料形成为筒状,具有缩径至轴向的前端部的排气口;筒状的加热炉,其从外侧包围所述炉管;样品保持设备,其配置于所述炉管的内部,保持样品;第一支撑台;第二支撑台;炉管固定部,其将所述炉管的轴向的后端部固定于所述第一支撑台;加热炉固定部,其将所述加热炉固定于所述第二支撑台;测定室,其气密地连接至所述炉管的所述后端部;测定设备,其配置于所述测定室内,测定所述样品的物性变化;第一移动设备,其使所述第一支撑台和所述第二支撑台在测定位置和样品安置位置之间移动,在所述测定位置,所述炉管的所述后端部连接至所述测定室,并且所述样品保持设备被所述加热炉覆盖,在所述样品安置位置,所述炉管和所述加热炉向比所述测定位置更前端侧前进,所述样品保持设备比所述炉管和所述加热炉更露出至后端侧;以及第二移动设备,其在所述炉管的所述后端部连接至所述测定室的状态下,在所述加热炉向比所述测定位置更前端侧前进且所述炉管在所述样品保持设备的外侧露出的样品观察位置,仅使所述第二支撑台移动,在所述样品观察位置,能够从露出的所述炉管的外侧观察所述样品。
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