[发明专利]一种用于真空紫外光谱参数校准的光学系统有效

专利信息
申请号: 201310065831.2 申请日: 2013-03-04
公开(公告)号: CN103176280A 公开(公告)日: 2013-06-26
发明(设计)人: 孙广尉;孙红胜;王加朋;张玉国;任小婉;魏建强;宋春晖 申请(专利权)人: 北京振兴计量测试研究所
主分类号: G02B27/30 分类号: G02B27/30;G02B27/09;G02B27/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100074 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及光学系统设计技术领域,具体的讲是一种用于真空紫外光谱参数校准的光学系统,其中当进行探测器真空紫外相对光谱响应率校准时,所述复数个准直透镜中的特定准直透镜将110nm-400nm波段范围内的特定波段的紫外光源变为平行光发送给所述探测器;当进行光源真空紫外光谱辐照度校准时,所述复数个会聚透镜中的特定会聚透镜将经过漫射器的110nm-400nm波段范围内的特定波段的紫外光源会聚输出至标准探测器,其中经过特定漫射器对特定波段的紫外光源进行均光。通过本发明实施例使用组合式设计方法,使光学系统的7片透镜材料、波段范围和性能参数得到合理匹配,降低了成本,简化了系统结构。
搜索关键词: 一种 用于 真空 紫外 光谱 参数 校准 光学系统
【主权项】:
一种用于真空紫外光谱参数校准的光学系统,其特征在于,包括壳体,复数个准直透镜或复数个会聚透镜;复数个准直透镜或所述复数个会聚透镜安装于所述壳体中,当进行探测器真空紫外相对光谱响应率校准时,所述复数个准直透镜中的特定准直透镜将110nm‑400nm波段范围内的特定波段的紫外光源变为平行光发送给所述探测器;当进行光源真空紫外光谱辐照度校准时,所述复数个会聚透镜中的特定会聚透镜将经过漫射器的110nm‑400nm波段范围内的特定波段的紫外光源会聚输出至标准探测器,其中经过特定漫射器对特定波段的紫外光源进行均光。
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