[发明专利]一种研究材料腐蚀电化学行为的装置及其原位TEM方法有效
申请号: | 201310062015.6 | 申请日: | 2013-02-27 |
公开(公告)号: | CN104007149A | 公开(公告)日: | 2014-08-27 |
发明(设计)人: | 张波;周杨韬;马秀良 | 申请(专利权)人: | 中国科学院金属研究所 |
主分类号: | G01N27/26 | 分类号: | G01N27/26;G01N23/22;G01N1/32 |
代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人: | 许宗富;周秀梅 |
地址: | 110016 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明公开了一种研究材料腐蚀电化学行为的装置及其原位TEM方法,属于腐蚀电化学行为研究领域。该装置包括上部塑料外壳、下部塑料外壳、铂片和铝导线;上部塑料外壳上开有直径2mm的孔,下部塑料外壳的上表面上嵌有铂片,铂片连接铝导线的一端,铝导线的另一端延伸至下部塑料外壳外部;所述铂片上依次放置垫片、TEM样品和上部塑料外壳,TEM样品通过上部塑料外壳上的孔与装置外的电解液接触。利用该装置将TEM样品封装成电极,然后在电解液中进行电化学曲线的测试并得到电化学信息,测试后的样品进行TEM观察表征。该方法能够实现在小尺度下原位研究电化学腐蚀过程中的结构演变,从而实现电化学信息和其结构演变的对应观察。 | ||
搜索关键词: | 一种 研究 材料 腐蚀 电化学 行为 装置 及其 原位 tem 方法 | ||
【主权项】:
一种研究材料腐蚀电化学行为的装置,其特征在于:该装置用于对TEM样品的电化学曲线的测试,包括上部塑料外壳、下部塑料外壳、环状铂片和铝导线;其中:上部塑料外壳上开有直径2mm的孔,下部塑料外壳的上表面上嵌有环状铂片,环状铂片连接铝导线的一端,铝导线的另一端伸到下部塑料外壳外部;所述环状铂片上依次放置垫片、TEM样品和上部塑料外壳,TEM样品通过垫片、环状铂片和铝导线的依次接触实现与装置外部的导通,TEM样品通过上部塑料外壳上的孔与装置外的电解液接触。
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