[发明专利]用于薄膜太阳能电池的缓冲层厚度的快速分析有效
| 申请号： | 201310055791.3 | 申请日： | 2013-02-21 |
| 公开（公告）号： | CN103868444A | 公开（公告）日： | 2014-06-18 |
| 发明（设计）人： | 蔡明典;程子桓 | 申请（专利权）人： | 台积太阳能股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/06 | 分类号： | G01B7/06 |
| 代理公司： | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人： | 章社杲;孙征 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于测量太阳能电池中的膜厚度的方法和装置，用于将发出多种辐射波长的光引导至太阳能电池的表面。每一种辐射都导致响应于光的电流的生成。通过电流计来指示感光电流，该装置具有与太阳能电池的表面连接的一个接触件和与另一表面连接的另一个接触件。确定与不同光辐射中的每一种相关联的电流，并且基于两个电流或者相关的量子效率和相关的吸收系数来计算太阳能电池中的膜的厚度。在一个实施例中，膜厚度是薄膜太阳能电池中的CdS或者其他缓冲膜的厚度。本发明还提供了用于薄膜太阳能电池的缓冲层厚度的快速分析。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 薄膜 太阳能电池 缓冲 厚度 快速 分析 | ||
【主权项】：
一种用于测量太阳能电池膜的厚度的方法，所述方法包括：提供包括缓冲层的太阳能电池，所述缓冲层具有依赖波长的吸收系数；生成具有多种辐射波长的光；将所述太阳能电池暴露于至少两种波长的光；响应于暴露于每一种波长的光，测量所述太阳能电池中所生成的光伏电流；基于测量的光伏电流来数学地计算所述缓冲层的厚度；以及将所测量的厚度的输出信号传输至其他器件。
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