[发明专利]上行外部干扰检测方法、干扰源定位方法及装置在审
| 申请号： | 201310046071.0 | 申请日： | 2013-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN103974280A | 公开（公告）日： | 2014-08-06 |
| 发明（设计）人： | 赵国峰;李伟民;王燕云;孔小玲;蒋贤忠 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04W24/00 | 分类号： | H04W24/00 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人： | 薛祥辉 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开上行外部干扰检测方法、干扰源定位方法及装置，上行外部干扰检测方法包括：分别获取N个时间粒度内到达小区的干扰信号功率；将获取到的各时间粒度内到达小区的干扰信号功率与第一阈值比较，统计干扰信号功率大于所述第一阈值的时间粒度数；将统计得出的时间粒度数与第二阈值比较，若大于所述第二阈值，则判断为相应小区存在上行外部干扰。干扰源定位方法包括根据上述的上行外部干扰检测方法判断出存在上行外部干扰的所有受干扰小区；根据预设规则从所有受干扰小区中判断出受同一干扰源影响的受干扰小区；根据受同一干扰源影响的受干扰小区，计算所述同一干扰源的位置信息。本发明通过以上技术方案，解决传统方案不够完善的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 上行 外部 干扰 检测 方法 定位 装置 | ||
【主权项】：
一种上行外部干扰检测方法，其特征在于，包括：分别获取N个时间粒度内到达小区的干扰信号功率，N≥1；将获取到的各时间粒度内到达小区的干扰信号功率与第一阈值比较，统计干扰信号功率大于所述第一阈值的时间粒度数；将统计得出的时间粒度数与第二阈值比较，若大于所述第二阈值，则判断为相应小区存在上行外部干扰。
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