[发明专利]基于输入微调的余数校验容错低通滤波处理方法有效
申请号: | 201310042828.9 | 申请日: | 2013-02-01 |
公开(公告)号: | CN103092731A | 公开(公告)日: | 2013-05-08 |
发明(设计)人: | 高镇;赵明;王京;潘文 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G06F11/14 | 分类号: | G06F11/14 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张大威 |
地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提出一种基于输入微调的余数校验容错低通滤波处理方法,包括:将采集数据x分别传输给第一支路、第二支路和余数支路,第一支路和第二支路为两个完全相同的低通滤波器支路,余数支路为一个基于余数处理的低通滤波器支路;对x进行取模处理;当取模结果第奇数/偶数次等于零时,分别将第一支路、第二支路和余数支路的输入数据加/减1,随后对微调加/减1后的新输入数据进行基于余数校验的容错滤波处理;当取模结果不等于零时,直接对第一支路、第二支路以及余数支路的输入数据进行一般的基于余数校验的容错滤波处理。本发明可避免由滤波器系数发生单粒子翻转所引起的故障漏检问题,具有操作简单,结果准确率高的优点。 | ||
搜索关键词: | 基于 输入 微调 余数 校验 容错 滤波 处理 方法 | ||
【主权项】:
一种基于输入微调的余数校验容错低通滤波处理方法,其特征在于,包括以下步骤:A:将采集数据x分别传输给第一支路、第二支路和余数支路,其中,所述第一支路和第二支路为两个完全相同的低通滤波器支路,所述余数支路为一个基于余数处理的低通滤波器支路;B:在所述余数支路中,对所述x进行取模处理(x)m,其中模数m为正整数,取模结果为xm;C:当所述xm第奇数次等于零时执行步骤C1,当所述xm第偶数次等于零时执行步骤C2,当所述xm不等于零时执行步骤C3;C1:将所述第一支路和第二支路的输入数据加1,并将所述余数支路的取模结果加1,随后所述第一支路、第二支路以及余数支路对微调加1后的新输入数据进行一般的基于余数校验的容错滤波处理;C2:将所述第一支路和第二支路的输入数据减1,并将所述余数支路的取模结果减1,随后所述第一支路、第二支路以及余数支路对微调减1后的新输入数据进行一般的基于余数校验的容错滤波处理。C3:直接对所述第一支路、第二支路以及余数支路的输入数据进行一般的基于余数校验的容错滤波处理。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学,未经清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310042828.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。