[发明专利]一种基于涂覆微纳光纤进行温度测量的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201310038550.8 申请日: 2013-01-31
公开(公告)号: CN103148956A 公开(公告)日: 2013-06-12
发明(设计)人: 宋章启;卫正统;张学亮;阳明晔;陈宇中;孟州 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科学技术大学
主分类号: G01K11/32 分类号: G01K11/32
代理公司: 长沙市融智专利事务所 43114 代理人: 欧阳迪奇
地址: 410073 *** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种基于涂覆微纳光纤的温度测量装置及方法,包括窄线宽激光器、光纤隔离器、耦合方式为2×2的光纤耦合器、微纳光纤、涂覆材料、信号光探测器和参考光探测器,激光器的输出端通过光纤连接至光纤隔离器后再连接至光纤耦合器的第一端口,信号光探测器连接涂覆后的微纳光纤,再连接至光纤耦合器的第三端口,参考光探测器通过光纤连接至光纤耦合器的第四端口。本发明的技术效果在于,利用微纳光纤大倏逝场的特性进行温度的测量。由于当外界环境温度变化,微纳光纤涂覆材料的吸收特性会发生变化,最终导致输出光功率的变化,克服了以往光纤温度测量结构复杂,信号处理困难等难题,便于复用,能够实时在线进行准分布式测量。
搜索关键词: 一种 基于 涂覆微纳 光纤 进行 温度 测量 装置 方法
【主权项】:
一种基于微纳光纤进行温度测量的装置,包括激光发生装置、经过材料涂覆的微纳光纤和信号光电探测器,所述的激光发生装置的输出端通过微纳光纤连接信号光探测器,微纳光纤所涂覆的材料的光学折射率实部小于微纳光纤的折射率实部,光学折射率虚部小于0。
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