[发明专利]一种新型颗粒材料组构各向异性的定量测试与分析方法无效

专利信息
申请号: 201310015519.2 申请日: 2013-01-16
公开(公告)号: CN103091212A 公开(公告)日: 2013-05-08
发明(设计)人: 杨仲轩;李玲玲;赵朝发 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00;G01N1/32
代理公司: 浙江杭州金通专利事务所有限公司 33100 代理人: 刘晓春
地址: 310058 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供了一种颗粒材料组构各向异性的定量测试与分析方法,能标定出不同种类的颗粒材料细观组构的变化,得出相应的细观参数。发明步骤如下:颗粒材料初始内结构的固定;施加20~30kPa的较小气压,将环氧树脂缓慢注入颗粒材料试样内,养护颗粒材料试样使其完全硬化;对养护固化后的颗粒材料试样切片,并对切片表面进行碾磨、抛光处理;用扫描电镜观察分析切片表面的细观结构。采用本方法,能够很好地固定颗粒材料的初始内结构,经过精心养护固化,对切片表面研磨抛光处理,可以在扫描电镜下清晰地观察到颗粒材料的内结构,在此基础上,可以后续分析工作准确地进行,以准确模拟颗粒材料各向异性和应力各向异性耦合等复杂条件下的力学行为。
搜索关键词: 一种 新型 颗粒 材料 组构 各向异性 定量 测试 分析 方法
【主权项】:
颗粒材料组构各向异性的定量测试与分析方法,其特征在于它包括以下步骤: (1)、颗粒材料初始内结构的固定。 施加20~30kPa的较小气压,将环氧树脂缓慢地注入颗粒材料试样内,养护一定时间后试样完全固化; (2)、对养护固化后的颗粒材料试样切片,并对切片表面进行碾磨、抛光处理; (3)、用扫描电镜观察分析切片表面的细观结构。
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