[发明专利]测试装置及测试方法有效
| 申请号： | 201310013916.6 | 申请日： | 2013-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN103913689B | 公开（公告）日： | 2017-03-01 |
| 发明（设计）人： | 赖佳助;蔡明汎;林河全;庄明翰;方柏翔 | 申请（专利权）人： | 矽品精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京戈程知识产权代理有限公司11314 | 代理人： | 程伟,王锦阳 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种测试装置及测试方法，该测试方法包括提供一包含承载件及测试件的测试装置，该承载件具有相对的第一表面及第二表面，且该第一表面具有弹性导电区；接着，设置至少一待测组件于该弹性导电区上；之后，将该测试件电性连接该待测组件与该承载件，使该承载件、待测组件及测试件形成电性回路。通过该弹性导电区的设计，仅需施以微小压力即可固定该待测组件，因而能避免该待测组件破碎。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种测试装置，包括：承载件，其具有相对的第一表面及第二表面，且该承载件具有贯穿该第一表面及该第二表面的开口，其中于该开口中设有弹性导电区，以供设置至少一待测组件；以及测试件，其于测试时与该弹性导电区电性连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于矽品精密工业股份有限公司，未经矽品精密工业股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310013916.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
