[发明专利]一种新的基于同系/类似化合物结构-质谱响应关系研究的不依赖标准品的定量分析方法无效

专利信息
申请号: 201310000004.5 申请日: 2013-01-04
公开(公告)号: CN103018317A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 王广基;郝海平;吴亮;龚平;吴昱铮 申请(专利权)人: 中国药科大学
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 211198 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本技术发明属于分析领域,涉及同系/类似化合物的定量分析,特别是复杂基质样品中不存在标准品的化合物定量分析。步骤如下:1.选取一系列同系/类似化合物进行其质谱定量方法学研究及考证;2.根据在建立的各化合物的标准曲线,进行截距为零的线性拟合;3.用分子模拟软件对化合物进行结构优化,计算相关的分子描述符;4.用分子模拟软件进行化合物结构与质谱响应之间关系的建立及验证;5.应用相关质谱技术对复杂基质样品进行定性分析;6.根据先前建立的结构-质谱响应关系方程,计算所鉴定出系列化合物的线性拟合标准曲线的斜率;7.用该系列化合物的拟合标准曲线,求得其在复杂基质样品中的浓度,即实现不依赖于标准品的定量分析。
搜索关键词: 一种 基于 类似 化合物 结构 响应 关系 研究 不依赖 标准 定量分析 方法
【主权项】:
一种新的基于同系/类似化合物结构‑质谱响应关系研究的不依赖标准品的定量分析方法,其特征在于由如下几个步骤组成:a:选取一系列同系/类似化合物进行其质谱定量方法学研究及考证;b:根据在一定浓度范围内建立的各化合物的标准曲线,进行截距为零的线性拟合;c:用分子模拟软件对化合物进行结构优化,计算与其各理化性质相关的分子描述符;d:用分子模拟软件进行化合物结构(包括各理化参数描述符、分析条件中与质谱响应相关的参数)与质谱响应(线性拟合标准曲线的斜率)之间关系的建立及验证;e:应用相关质谱技术对复杂基质样品进行定性分析,从总离子流图谱中寻找及确定主要的离子峰,并通过准确分子质量、碎裂途径等质谱信息对筛选的该系列化合物进行结构鉴定;f:根据先前建立的结构‑质谱响应关系方程,计算所鉴定出系列化合物的线性拟合标准曲线的斜率,即预测该系列化合物的标准曲线;g:用该系列化合物的拟合标准曲线,对这些化合物进行定量分析,求得其在复杂基质样品中的浓度,即实现不依赖于标准品的定量分析。
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