[发明专利]用于形成并维持高性能FRC的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201280055842.6 申请日: 2012-11-14
公开(公告)号: CN103918034A 公开(公告)日: 2014-07-09
发明(设计)人: M.图斯泽维斯基;M.宾德鲍尔;D.巴内斯;E.加拉特;H.郭;S.普特温斯基;A.斯米诺夫 申请(专利权)人: 加州大学评议会
主分类号: G21B1/05 分类号: G21B1/05
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 原绍辉;谭祐祥
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明提供了便于形成和维持新颖高性能场反向配置(FRC)的系统和方法。用于高性能FRC(HPF)的FTC系统包括由两个直径对置的反向场θ箍缩形成部段和超过这些形成部段的两个偏滤器包围的中央约束容器以控制中性粒子密度和杂质污染。一种磁系统包括沿着FRC系统部件在轴向定位的一系列准直流线圈,在约束腔室与相邻形成部段之间的准直流镜线圈以及在形成部段与偏滤器之间的镜插塞。形成部段包括模块式脉冲功率形成系统,其允许FRC在现场形成并且然后加速并喷射(=静态形成)或者同时形成并加速(=动态形成)。FRC系统还包括中性原子束喷射器、球团喷射器、吸杂系统、轴向等离子体枪和通量表面偏压电极。
搜索关键词: 用于 形成 维持 性能 frc 系统 方法
【主权项】:
一种利用场反向配置(EFC)来生成和维持磁场的系统,包括:约束腔室,第一和第二直径对置的FRC形成部段,其联接到所述约束腔室,以及联接到所述约束腔室的多个中性原子束喷射器,其中所述系统配置为生成FRC,所述FRC具有比常规FRC的粒子约束更大的粒子约束,与常规FRC约束定标有以至少2的系数的偏差,常规FRC约束定标基本上取决于比R2i
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