[发明专利]包括滤光器的测定装置和一种测定方法在审
申请号: | 201280052574.2 | 申请日: | 2012-08-30 |
公开(公告)号: | CN104040340A | 公开(公告)日: | 2014-09-10 |
发明(设计)人: | N.J.康普贝尔;K.E.莫拉维克;B.J.理查森 | 申请(专利权)人: | 超新星诊断公司 |
主分类号: | G01N33/52 | 分类号: | G01N33/52;G01N33/53;G01N33/558 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 刘金凤;刘春元 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种用于对分析物进行测试的测定装置包括允许分析物从施加区到废料区的通过的通道。所述装置包括发射或者修改光并且结合到所述分析物的标记材料。在所述施加区与所述废料区之间存在具有捕获材料以用于将穿越所述通道的任何分析物结合到所述通道的捕获区。在所述装置的一个表面上的第一滤光器允许透射由所述标记物发射或者修改的光并且阻挡至少一个其它波长范围的光。这使得所述装置能够从一个表面被照射并且允许由所述标记物发射或者修改的光从相对的表面被检测。所述装置可以包括允许更短波长的光到达所述标记物的第二滤光器。可以使用照射读取器来观察所述装置或者举起所述装置对着光源以便观察。 | ||
搜索关键词: | 包括 滤光 测定 装置 一种 方法 | ||
【主权项】:
一种用于使得能够对分析物执行测试的测定装置,所述装置具有用于施加一定数量的所述分析物的施加区、废料区以及用于允许所述分析物从所述施加区到所述废料区的通过的通道,所述测定装置包括至少在被活化时将发射或者修改光并且将结合到所述分析物的一定数量的标记材料,所述通道还包括具有一定数量的捕获材料、位于所述施加区与所述废料区之间的捕获区,所述捕获材料被结合到所述通道并且将结合到沿着所述通道通过的分析物,以使得所述分析物将被结合到所述通道,所述测定装置在其一侧具有第一滤光器以用于允许透射由所述标记材料所发射或者修改的光以及用于阻挡至少一个其它波长范围的光,以便使得所述测定装置能够被从其一侧被照射并且以便由位于所述通道中的所述标记材料发射或者修改的光被从其相对侧被检测。
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