[发明专利]成像装置和合焦参数值计算方法有效
申请号: | 201280048301.0 | 申请日: | 2012-09-04 |
公开(公告)号: | CN103842877A | 公开(公告)日: | 2014-06-04 |
发明(设计)人: | 井上和纪;青木贵嗣 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | G02B7/28 | 分类号: | G02B7/28;G02B7/34;G03B13/36;H04N5/232 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 夏东栋;陆锦华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种成像装置,包括:具有多个像素和相位差像素的成像元件,所述多个像素以二维阵列图案排列形成于其中,所述相位差像素被形成在有效的像素区域内;成像镜头;相位差量检测单元,所述相位差量检测单元分析由所述成像元件捕获的图像信号,并且从成对的两个相位差像素的检测信号找到相位差量;以及控制单元,所述控制单元从检测的相位差量,为所述成像元件捕获的摄影被摄体图像找到散焦量,并且对成像镜头进行合焦控制。所述控制单元:基于用于成像镜头的成像镜头信息和受光灵敏度分布,找到与散焦量和相位差量之间的比率有关的参数值并且找到散焦量,所述受光灵敏度分布为用于相对于成对的两个相位差像素的入射光的各个入射角的灵敏度。 | ||
搜索关键词: | 成像 装置 和合 参数 计算方法 | ||
【主权项】:
一种图像捕获装置,包括:图像捕获元件,其中以二维阵列图案排列和形成多个像素,并且在有效像素区域内的焦点检测区域中形成相位差像素;摄影镜头,所述摄影镜头被安装在所述图像捕获元件的前级内;相位差量检测单元,所述相位差量检测单元分析被所述图像捕获元件捕获的图像信号,并且从成对的两个所述相位差像素的检测信号获得相位差量;以及控制单元,所述控制单元从所述相位差量检测单元检测的所述相位差量获得所述图像捕获元件通过所述摄影镜头摄影的被摄体图像的散焦量,并且执行所述摄影镜头的合焦控制,其中,所述控制单元基于所述摄影镜头的摄影镜头信息和受光灵敏度分布获得关于所述散焦量和所述相位差量的比率的参数值,并且从所述参数值和所检测的相位差量获得所述散焦量,所述受光灵敏度分布指示对于所述成对的两个相位差像素的入射光的各个入射角的灵敏度。
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