[发明专利]成像装置和合焦参数值计算方法有效

专利信息
申请号: 201280048301.0 申请日: 2012-09-04
公开(公告)号: CN103842877A 公开(公告)日: 2014-06-04
发明(设计)人: 井上和纪;青木贵嗣 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: G02B7/28 分类号: G02B7/28;G02B7/34;G03B13/36;H04N5/232
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 夏东栋;陆锦华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种成像装置,包括:具有多个像素和相位差像素的成像元件,所述多个像素以二维阵列图案排列形成于其中,所述相位差像素被形成在有效的像素区域内;成像镜头;相位差量检测单元,所述相位差量检测单元分析由所述成像元件捕获的图像信号,并且从成对的两个相位差像素的检测信号找到相位差量;以及控制单元,所述控制单元从检测的相位差量,为所述成像元件捕获的摄影被摄体图像找到散焦量,并且对成像镜头进行合焦控制。所述控制单元:基于用于成像镜头的成像镜头信息和受光灵敏度分布,找到与散焦量和相位差量之间的比率有关的参数值并且找到散焦量,所述受光灵敏度分布为用于相对于成对的两个相位差像素的入射光的各个入射角的灵敏度。
搜索关键词: 成像 装置 和合 参数 计算方法
【主权项】:
一种图像捕获装置,包括:图像捕获元件,其中以二维阵列图案排列和形成多个像素,并且在有效像素区域内的焦点检测区域中形成相位差像素;摄影镜头,所述摄影镜头被安装在所述图像捕获元件的前级内;相位差量检测单元,所述相位差量检测单元分析被所述图像捕获元件捕获的图像信号,并且从成对的两个所述相位差像素的检测信号获得相位差量;以及控制单元,所述控制单元从所述相位差量检测单元检测的所述相位差量获得所述图像捕获元件通过所述摄影镜头摄影的被摄体图像的散焦量,并且执行所述摄影镜头的合焦控制,其中,所述控制单元基于所述摄影镜头的摄影镜头信息和受光灵敏度分布获得关于所述散焦量和所述相位差量的比率的参数值,并且从所述参数值和所检测的相位差量获得所述散焦量,所述受光灵敏度分布指示对于所述成对的两个相位差像素的入射光的各个入射角的灵敏度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士胶片株式会社,未经富士胶片株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201280048301.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top