[发明专利]用于通过自动检测入射辐射而控制光电探测器的方法

摘要

本发明涉及一种用于控制包括光敏点的阵列的例如数字X射线探测器的光敏器件的方法。所述光敏器件包括列导线、行导线以及光敏点。每个光敏点连接在列导线和行导线中的一条之间，并且包括能够将光子流转换成电荷的光敏元件，以及能够基于由对应的行导线接收的信号的控制而将电荷传输到列导线的晶体管。本发明依赖在关断状态下每个晶体管的漏极和源极之间的交叉耦合的电容的存在。在接收到电子时，所述电容向列导线提供电位的变化。根据本发明的方法包括用于将电位变化与阈值进行比较的步骤（21、22、23、24），以及在比较结果为正的情况下进行光敏点的读取的步骤（25）。

主权项

一种用于控制光敏器件(10)的方法，所述光敏器件(10)包括列导线(Y1‑Y3)、行导线(X1‑X3)以及光敏点(Pp)，每个光敏点(Pp)链接在所述列导线(Y1‑Y3)和所述行导线(X1‑X3)中的一条之间，并且包括适用于将光子流转换成电荷的光敏元件(Dp)，以及由对应的行导线(X1‑X3)控制的晶体管(T)，所述晶体管(T)在采集阶段期间被控制在关断状态，在所述采集阶段期间光子流被转换成电荷，并且所述晶体管(T)在读取阶段期间依次被控制在开启状态，从而将电荷逐行转移到所述列导线(Y1‑Y3)，在关断状态下，每个晶体管(T)在对应的光敏元件(Pp)和列导线(Y1‑Y3)之间引入杂散耦合电容(C)，所述方法的特征在于，所述方法包括步骤(21、22)，所述步骤(21、22)包括当所述晶体管(T)被控制在关断状态时，在不同的时刻tn‑2、tn‑1、tn确定在所述列导线(Y1‑Y3)上的电位。