[发明专利]用于近和中IR多通道传感器的漫射测量窗口有效
申请号: | 201280027351.0 | 申请日: | 2012-06-04 |
公开(公告)号: | CN103620384B | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | A.克罗拉克;S.蒂克西尔 | 申请(专利权)人: | 霍尼韦尔阿斯卡公司 |
主分类号: | G01N21/47 | 分类号: | G01N21/47;G01N21/86 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 马红梅,胡莉莉 |
地址: | 加拿大*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种近红外和中红外区中的辐射的漫射反射器,包括(i)具有反射元件和漫射元件的组件,所述漫射元件由氟化钙、蓝宝石或氧化铝的一个或多个层制成;或者(ii)被配置为具有粗糙表面的金属层的漫反射表面。漫射反射器能够被合并到用于测量薄片材料的性质的系统中并且特别地被合并到包括测量窗口的光学传感器中,所述测量窗口被配置有使来自传感器光源的入射辐射在被传感器接收器检测到之前在材料层内被漫射和反射多次的漫射反射器中的一个或多个。 | ||
搜索关键词: | 用于 ir 通道 传感器 漫射 测量 窗口 | ||
【主权项】:
一种用于感测材料层的设备(2,52),包括:辐射源(8,58),其被设置在所述材料层(24,74)的一个侧面上,将具有5微米以上的波长的入射近红外和中红外辐射(38,88)的光束导向至所述材料层(24,74)中;辐射接收器(10,60),其检测传播通过所述材料层(24,74)的反射光束(44,94)的至少一部分;以及限定具有针对所述材料层(24,74)的路径的测量单元的一个或多个构件,其中每个构件包括漫射器(14,34,64,84),所述漫射器(14,34,64,84)包括:(i)氧化铝层(68,98),其对于来自辐射源(58)的近红外和中红外辐射来说半透明,且其被形成在镜面的反射表面(66,96)上,其中所述氧化铝层(68,98)具有面向材料层(74)的侧面的平面表面(72,92);或者(ii)至少一个第二材料层(18,48),其包括被形成在镜面的反射表面(16,46)上且对于来自辐射源(58)的近红外和中红外辐射来说透明的氟化钙或蓝宝石,其中第二材料层(18,48)具有抛光的外表面(22,42)和粗糙化的内表面(20,40),所述抛光的外表面(22,42)面向材料层(24)的侧面,其中所述测量单元被配置成使辐射在被所述辐射接收器(10,60)检测到之前被反射通过所述材料层(24,74)多次。
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