[发明专利]用于测定轧件的厚度的方法以及设备有效

专利信息
申请号: 201280024992.0 申请日: 2012-05-04
公开(公告)号: CN103547386A 公开(公告)日: 2014-01-29
发明(设计)人: 安德烈亚斯·迈尔霍费尔 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: B21B38/04 分类号: B21B38/04;G01B15/02;G01B17/02
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;李慧
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种通过借助射线测量系统(8)利用射线源(12)和射线探测器(16)无接触地测量对于厚度(d)的基本测量值(G)的方法,在测定轧件(4)的、特别是轧制带材的或金属板的厚度(d)中改善了测量精度,其中射线源(12)和射线探测器(16)由保持机械结构(6)承载,并且其中附加地借助同样布置在保持机械结构(4(6))上的超声波测量头(24)测量参考测量值(R)。为了消除基本测量值(G)的误差影响引入参考测量值(R)。
搜索关键词: 用于 测定 轧件 厚度 方法 以及 设备
【主权项】:
一种用于测定在借助轧机列轧制轧件(4)时的所述轧件(4)的、特别是轧制带材的或金属板的厚度(d)的方法,其中‑借助射线测量系统(8)无接触地测量对于所述厚度(d)的基本测量值(G),其中所述射线测量系统(8)集成在所述轧机列中,‑借助超声波测量头(24)测量对于所述厚度(d)的参考测量值(R),同样所述超声波测量头集成在所述轧机列中,以及‑为了消除所述基本测量值(G)的误差影响引入所述参考测量值(R)。
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