[发明专利]用于测定轧件的厚度的方法以及设备有效
申请号: | 201280024992.0 | 申请日: | 2012-05-04 |
公开(公告)号: | CN103547386A | 公开(公告)日: | 2014-01-29 |
发明(设计)人: | 安德烈亚斯·迈尔霍费尔 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | B21B38/04 | 分类号: | B21B38/04;G01B15/02;G01B17/02 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;李慧 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及一种通过借助射线测量系统(8)利用射线源(12)和射线探测器(16)无接触地测量对于厚度(d)的基本测量值(G)的方法,在测定轧件(4)的、特别是轧制带材的或金属板的厚度(d)中改善了测量精度,其中射线源(12)和射线探测器(16)由保持机械结构(6)承载,并且其中附加地借助同样布置在保持机械结构(4(6))上的超声波测量头(24)测量参考测量值(R)。为了消除基本测量值(G)的误差影响引入参考测量值(R)。 | ||
搜索关键词: | 用于 测定 轧件 厚度 方法 以及 设备 | ||
【主权项】:
一种用于测定在借助轧机列轧制轧件(4)时的所述轧件(4)的、特别是轧制带材的或金属板的厚度(d)的方法,其中‑借助射线测量系统(8)无接触地测量对于所述厚度(d)的基本测量值(G),其中所述射线测量系统(8)集成在所述轧机列中,‑借助超声波测量头(24)测量对于所述厚度(d)的参考测量值(R),同样所述超声波测量头集成在所述轧机列中,以及‑为了消除所述基本测量值(G)的误差影响引入所述参考测量值(R)。
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