[实用新型]PCB板测试用无间隙两段式结构

摘要

本实用新型公开了一种PCB板测试用无间隙两段式结构，包括竖向由上而下顺序设置的上针板、上载板、下载板和下针板，上载板和上针板之间以及下载板和下针板之间具有供真空吸合的空间，上载板和下载板之间设置待测PCB板，真空吸合时，长探针和短探针能够穿过探针通孔同时触及待测试针点，另设有挂钩机构，挂钩机构能够在真空放开时仅使长探针穿过探针通孔触及待测试针点，本实用新型具有结构简单，便于操作实施的优点，能够确保在一次测试之后，按照测量要求很方便的将会干扰或不需测试的探针脱离，方便二次测试的进行，确保二次测试的结果，本实用新型只需一次吸真空过程即可完成PCB板两段式测试，能够提高了测试效率，进而节省测试成本。

主权项

一种PCB板测试用无间隙两段式结构，其特征在于：以使用方向为基准，包括竖向由上而下顺序设置的上针板（1）、上载板（2）、下载板（3）和下针板（4），所述上载板和所述上针板之间以及所述下载板和所述下针板之间具有供真空吸合的空间（5），所述上载板和所述下载板之间设置待测PCB板（6），对应待测PCB板上多次测试时始终需要探针接触的待测试针点，所述上针板上和所述下针板上分别竖向穿设有长探针（7），对应待测PCB板上多次测试时不需要探针始终接触的待测试针点，所述上针板上和所述下针板上分别竖向穿设有短探针（8），对应每一个探针，所述上载板和所述下载板上设有导正所述探针的探针通孔，真空吸合时，所述长探针和所述短探针能够穿过所述探针通孔同时触及所述待测试针点，另设有挂钩机构（9），所述挂钩机构能够在真空放开时仅使所述长探针穿过所述探针通孔触及所述待测试针点。