[实用新型]LED老化测试系统有效
申请号: | 201220568225.3 | 申请日: | 2012-10-31 |
公开(公告)号: | CN202916401U | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
发明(设计)人: | 黄永贤 | 申请(专利权)人: | 许伟清 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R1/28;G01M11/02 |
代理公司: | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 | 代理人: | 杨林;马翠平 |
地址: | 529200 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开一种LED老化测试系统,该测试系统包括:可视化人机交互模块,用于选择一测试模式并输入与其对应的测试参数,显示测试模式和/或测试参数;微处理器模块,用于接收测试模式及对应的测试参数,计算测试参数得到计算结果并将其输出;被测试模块,用于接收计算结果并实现与测试模式相对应的被测试模式,得到被测试参数并将其输出;测试模块,用于接受微处理器模块的控制并根据接收到的被测试参数测试被测试模块得到模拟测试结果,模拟测试结果经由微处理器模块读取并处理为数字测试结果,而后显示与可视化人机交互模块。该测试系统可同时在线老化测试多颗LED,功能更全面,效率更高。 | ||
搜索关键词: | led 老化 测试 系统 | ||
【主权项】:
一种LED老化测试系统,其特征在于,包括:可视化人机交互模块,用于选择一测试模式并输入与其对应的测试参数,显示所述测试模式和/或所述测试参数;微处理器模块,用于接收所述测试模式及对应的测试参数,计算所述测试参数得到计算结果并将其输出;被测试模块,用于接收所述计算结果并实现与所述测试模式相对应的被测试模式,得到被测试参数并将其输出;测试模块,用于接受所述微处理器模块的控制并根据接收到的所述被测试参数测试所述被测试模块得到模拟测试结果,所述模拟测试结果经由所述微处理器模块读取并处理为数字测试结果,所述数字测试结果输出到所述可视化人机交互模块并由其显示。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于许伟清,未经许伟清许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201220568225.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。