[实用新型]电子产品老化检测试验装置有效
| 申请号： | 201220437085.6 | 申请日： | 2012-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN202815106U | 公开（公告）日： | 2013-03-20 |
| 发明（设计）人： | 白云飞;郭承伟;张玉双 | 申请（专利权）人： | 北京德天泉机电设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京驰纳智财知识产权代理事务所(普通合伙) 11367 | 代理人： | 谢亮;王志刚 |
| 地址： | 100091*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种电子产品老化检测试验装置，包括检测板（3）、检测接口（4），所述检测接口（4）固定安装在检测板（3）上，各个检测接口（4）通过并联电路连接，所述检测板（3）上安装有与检测接口（4）一一对应的指示灯（5），该老化检测装置结构简单、成本低廉、检测接口数量多且检测接口可以与多种电子产品连接进行老化试验。 | ||
| 搜索关键词： | 电子产品 老化 检测 试验装置 | ||
【主权项】：
一种电子产品老化检测试验装置，包括检测板（3）、检测接口（4），其特征在于：所述检测接口（4）固定安装在检测板（3）上，各个检测接口（4）通过并联电路连接，所述检测板（3）上安装有与检测接口（4）一一对应的指示灯（5）。
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