[实用新型]一种冷镜式露点测试仪的光路系统有效

专利信息
申请号: 201220352367.6 申请日: 2012-07-19
公开(公告)号: CN202710497U 公开(公告)日: 2013-01-30
发明(设计)人: 水浩淼;李祥伟;姚胜卫 申请(专利权)人: 上海电控研究所
主分类号: G01N25/68 分类号: G01N25/68
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 郭国中
地址: 200092 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开一种冷镜式露点测试仪的光路系统;用于对测量头镜面上的露点状况进行检测,包括:点光源,其发出的一部分光线通过挡光螺钉照射到补偿硅光电池,另一部分光线通过透镜一变成平行光照射到镜面上,平行光在镜面上发生反射通过透镜二聚焦到光阑上;当镜面上有露时,射到镜面的平行光发生漫反射,平行光变成发散光通过透镜二大部分从光阑漏过,射到工作硅光电池上,工作硅光电池将此光信号传输给所述测试仪中的光路调理电路。本实用新型采用双光路系统,以消除环境温度对硅光电池输入特性、光源的波动及其它共同因素引起的测量误差,提高测量精度。
搜索关键词: 一种 冷镜式 露点 测试仪 系统
【主权项】:
一种冷镜式露点测试仪的光路系统,用于对测量头镜面上的露点状况进行检测,其特征在于,包括:点光源(1),其发出的一部分光线通过挡光螺钉(8)照射到补偿硅光电池(5),另一部分光线通过透镜(2)变成平行光照射到镜面(4)上,平行光在镜面(4)上发生反射通过透镜(3)聚焦到光阑(7)上;当镜面(4)上有露时,射到镜面(4)的平行光发生漫反射,平行光变成发散光通过透镜(3)大部分从光阑(7)漏过,射到工作硅光电池(6)上,工作硅光电池(6)将此光信号传输给所述测试仪中的光路调理电路。
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