[实用新型]无熔接点高可靠性光纤光栅温度传感器链路有效
申请号: | 201220303782.2 | 申请日: | 2012-06-25 |
公开(公告)号: | CN202661198U | 公开(公告)日: | 2013-01-09 |
发明(设计)人: | 孙宇臣;王建东;李志双 | 申请(专利权)人: | 北京中恩时代科技有限责任公司 |
主分类号: | G01K11/32 | 分类号: | G01K11/32 |
代理公司: | 北京市盛峰律师事务所 11337 | 代理人: | 赵建刚 |
地址: | 100017 北京市大兴区北京经*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型提供一种无熔接点高可靠性光纤光栅温度传感器链路,包括:在一根光缆的光纤上顺次刻蚀的若干个光纤光栅和用于封装每一个所述光纤光栅的封装单元。因此,整串传感器没有熔接点,从而提高了光纤光栅温度传感器的工作可靠性。 | ||
搜索关键词: | 熔接 可靠性 光纤 光栅 温度传感器 | ||
【主权项】:
一种无熔接点高可靠性光纤光栅温度传感器链路,其特征在于,包括:在一根光缆的光纤上顺次刻蚀的若干个光纤光栅和用于封装每一个所述光纤光栅的封装单元。
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