[实用新型]接近式曝光掩膜板有效
申请号: | 201220161321.6 | 申请日: | 2012-04-16 |
公开(公告)号: | CN202735676U | 公开(公告)日: | 2013-02-13 |
发明(设计)人: | 黎敏;吴洪江;张继凯;王耸 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
主分类号: | G03F1/50 | 分类号: | G03F1/50 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;姜精斌 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型提供一种接近式曝光掩膜板,属于显示领域。其中,该接近式曝光掩膜板,用以对彩色滤光片进行接近式曝光,从所述掩膜板的边缘到所述掩膜板的中心,掩膜板上图形的尺寸逐渐增大。本实用新型的技术方案能够解决因掩膜板弯曲造成的玻璃基板上图形尺寸不均一的问题,从而改善液晶显示面板的显示品质。 | ||
搜索关键词: | 接近 曝光 掩膜板 | ||
【主权项】:
一种接近式曝光掩膜板,其特征在于,从所述掩膜板的边缘到所述掩膜板的中心,所述掩膜板上图形的尺寸逐渐增大。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
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