[实用新型]一种直流离子流场校验装置有效
| 申请号： | 201220109379.6 | 申请日： | 2012-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN202502237U | 公开（公告）日： | 2012-10-24 |
| 发明（设计）人： | 苏磊;江建华;王黎明 | 申请（专利权）人： | 上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 林君如 |
| 地址： | 200122 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及一种直流离子流场校验装置，该校验装置由校核区、电晕注入区及电晕发生区构成，校核区、电晕注入区及电晕发生区自下向上依次设置。与现有技术相比，本实用新型结构简单，使用方便，通过测量离子流情况下的场强就可以计算得到离子流场中的离子迁移率，而且还可以适用于500kV的高压场合。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 直流 离子 校验 装置 | ||
【主权项】：
一种直流离子流场校验装置，设置在金属支架上，其特征在于，该校验装置由校核区、电晕注入区及电晕发生区构成，所述的校核区、电晕注入区及电晕发生区自下向上依次设置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司，未经上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201220109379.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
