[发明专利]一种消逝场激发薄膜拉曼信号的增强方法及装置有效

专利信息
申请号: 201210575352.0 申请日: 2012-12-26
公开(公告)号: CN103901013A 公开(公告)日: 2014-07-02
发明(设计)人: 祁志美;胡德波;逯丹凤 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01N21/65 分类号: G01N21/65
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 宋焰琴
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种消逝场激发薄膜拉曼信号的增强方法,所述方法将待测薄膜形成于棱镜表面,再将入射光射入棱镜并在棱镜/待测薄膜界面处发生全反射,利用全反射产生的消逝场激发待测薄膜的拉曼信号,然后增大待测薄膜上方覆盖层折射率,用于增强消逝场,最终实现待测薄膜拉曼信号的增强。该方法也可以利用光纤或光波导取代棱镜,通过增强光纤或光波导的消逝场实现待测薄膜拉曼信号的增强。本发明的拉曼信号增强方法操作简单,重复性好,具有良好的表面选择性,消逝场偏振状态灵活可调,覆盖层折射率易于控制,非常适合用于探测单分子吸附层,表面修饰层等固体超薄膜的拉曼信号。
搜索关键词: 一种 消逝 激发 薄膜 信号 增强 方法 装置
【主权项】:
一种消逝场激发薄膜拉曼信号的增强装置,该装置包括:棱镜(2)、待测薄膜(5)、覆盖层(6)以及拉曼散射光收集装置(7),其特征在于,所述待测薄膜(5)形成于棱镜(2)一底面,覆盖层(6)置于待测薄膜(5)上方,入射激光射入棱镜(2)后在棱镜(2)与待测薄膜(5)之间的界面处发生全反射,伴随全反射在同一界面处产生消逝场,该消逝场穿透待测薄膜(5)进入覆盖层(6),进而激发待测薄膜(5)拉曼信号;通过增大覆盖层(6)的折射率增强在待测薄膜(5)内的消逝场,进而增强待测薄膜(5)拉曼信号,该增强的拉曼信号被拉曼散射光收集装置(7)收集后传入拉曼光谱仪进行分析。
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