[发明专利]半导体器件的寿命的动态估算有效
| 申请号： | 201210567232.6 | 申请日： | 2005-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN103150221A | 公开（公告）日： | 2013-06-12 |
| 发明（设计）人： | X·韦拉;J·阿韦利亚;O·云萨尔;O·埃尔金;A·冈萨雷斯 | 申请（专利权）人： | 英特尔公司 |
| 主分类号： | G06F11/00 | 分类号： | G06F11/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 邬少俊;王英 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 在一个实施例中，本发明包括一种方法，所述方法用于获得诸如处理器的半导体器件的动态工作参数信息，基于动态工作参数信息确定所述器件的整体或者其一个或多个部分的动态使用情况，并且基于动态使用情况动态估算所述器件的剩余寿命。可以根据估算剩余寿命按照所期望的方式控制所述器件。还描述了其他实施例，并要求对其进行保护。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体器件 寿命 动态 估算 | ||
【主权项】：
一种方法，包括：获得处理器的动态工作参数信息；基于所述动态工作参数信息确定所述处理器的动态使用情况；基于所述动态使用情况动态估算所述处理器的剩余寿命；以及基于所述估算剩余寿命控制所述处理器，包括改变所述处理器的所选内核的频率和/或电压。
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