[发明专利]一种电路物理设计相似度的测试方法有效
| 申请号： | 201210519168.4 | 申请日： | 2012-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN103020346A | 公开（公告）日： | 2013-04-03 |
| 发明（设计）人： | 彭敏放;谭虎 | 申请（专利权）人： | 湖南大学 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 长沙市融智专利事务所 43114 | 代理人： | 欧阳迪奇 |
| 地址： | 410082 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电路物理设计相似度的测试方法。它包括以下几个步骤：将电路原理图中的元件（或模块）等效为节点，元件（或模块）之间的连接等效为边，以此构建电路物理设计的复杂网络；计算电路物理设计复杂网络的四种特征参数：节点度、节点介数、节点聚类系数、节点平均路径长度；将相对比的电路物理设计复杂网络进行特征参数累积分布的Kolmogorov–Smirnov测试，获得各网络特征参数的总体相似度。本发明根据不同电路物理设计所表现出来的复杂网络特征，对电路物理设计的相似度给出了定量的分析，减少了电路物理设计专利侵权纠纷中因观察电路设计外观等受主观因素影响带来的误判。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电路 物理 设计 相似 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种电路物理设计相似度的测试方法，其特征在于，包括以下步骤，步骤一：将需对比的两个电路原理图中的各个元件或功能模块及其之间的连接抽象成复杂网络，以得到两个电路原理图相应的复杂网络的节点集V、V'；步骤二：根据步骤一所得到的两个复杂网络的节点集来分别计算两个复杂网络的四种特征参数：节点度、节点介数、节点聚类系数、节点平均路径长度，在对每个节点的特征参数均进行计算后，得到四种特征参数的数据集；步骤三：根据步骤二所得的两个复杂网络的网络特征参数的数据集来分别计算特征参数的累积分布，并将两个复杂网络的特征参数的累积分布进行Kolmogorov–Smirnov对比测试以得到最大垂直偏差的标准统计量；步骤四：根据步骤三中累积分布K‑S测试所得的最大垂直偏差的标准统计量来计算电路物理设计的相似度。
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