[发明专利]一种集成电路仿真波形显示器中的测量工具实现方法在审

专利信息
申请号: 201210499158.9 申请日: 2012-11-29
公开(公告)号: CN103853857A 公开(公告)日: 2014-06-11
发明(设计)人: 吴跃波;宋德强;张卫卫;郭根华 申请(专利权)人: 北京华大九天软件有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100102 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明是一种集成电路仿真波形显示器中的测量工具实现方法,所属的技术是集成电路辅助设计领域,尤其是涉及集成电路数字仿真、模拟仿真和数模混合仿真领域。本发明针对大规模集成电路仿真工具输出结果分析功能,提供了一整套完备测量工具实现方法。本发明定义了七大类,共计38个测量工具,可提供对信号波形各种属性进行精准测量的功能,并可实现复杂特定设计分析的自定义和自动化,快速的将仿真结果转换为有用的设计参数。在实际的工程应用中,能很好的满足集成电路设计工程师对仿真结果分析的需求,极大的提升设计人员的工作效率。
搜索关键词: 一种 集成电路 仿真 波形 显示器 中的 测量 工具 实现 方法
【主权项】:
一种集成电路仿真波形显示器中的测量工具实现方法,其技术特征在于定义了以下四个流程:①选择测量工具类型,创建工具实例;②通过鼠标操作工具实例,触发测量动作;③工具实例接收鼠标触发事件,调用测量接口执行测量;④工具实例界面主题显示测量结果。
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