[发明专利]矩阵测试方法、系统及电压时脉控制方法无效
申请号: | 201210494994.8 | 申请日: | 2012-11-28 |
公开(公告)号: | CN103678079A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 曾金城 | 申请(专利权)人: | 群光电子股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/267 | 分类号: | G06F11/267 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李鹤松 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明是揭露一种矩阵测试方法、系统及电压时脉控制方法,其中主要包括下列步骤:提供一矩阵电路,该矩阵电路包括多个第一端点及多个第二端点,各该第一端点与各该第二端点之间具有一路径,各该路径上具有一开关;依时间顺序提供脉冲电压给各该第一端点或各该第二端点,每一脉冲电压具一定时间宽度且在时间上不重叠;以及通过同时按压该等开关中的多个以及基于各该脉冲电压在各该第一端点或各该第二端点的作用时间,判断各该开关是否正常作用。 | ||
搜索关键词: | 矩阵 测试 方法 系统 电压 控制 | ||
【主权项】:
一种矩阵测试方法,其特征在于,所述矩阵测试方法包括下列步骤:提供一矩阵电路,所述矩阵电路包括多个第一端点及多个第二端点,各所述第一端点与各所述第二端点之间具有一路径,各所述路径上具有一开关;依时间顺序提供脉冲电压给各所述第一端点或各所述第二端点,每一脉冲电压具一定时间宽度且在时间上不重叠;以及通过同时按压所述多个开关中的多个以及基于各所述脉冲电压在各所述第一端点或各所述第二端点的作用时间,判断各所述开关是否正常作用。
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