[发明专利]铅浓度对凤梨叶片影响的测定方法

摘要

本发明提供一种铅浓度对凤梨叶片影响的测定方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)、用蛭石和草炭以1∶1的重量比配制栽培基质；(2)、将栽培基质放入事先已经标记好的方盆中称量，Pb(NO3)2以水溶液的形式均匀拌入土壤中，得到培养基质；(3)、将凤梨植株种植在混有不同浓度的Pb2+培养基质和不含Pb2+的培养基质上，每个处理重复三次。本发明提供了一种合理的测定方法，可以简单方便的测定铅浓度对凤梨叶片的影响，从而找到凤梨的最大铅胁迫浓度，为进一步进行科学研究提供有力的数据支撑。

主权项

一种铅浓度对凤梨叶片影响的测定方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)、用蛭石和草炭以1∶1的重量比配制栽培基质；(2)、将栽培基质放入事先已经标记好的方盆中称量，Pb(NO3)2以水溶液的形式均匀拌入土壤中，得到培养基质，以不加Pb(NO3)2为对照组，处理组Pb2+浓度分别为500mg·kg‑1、1000mg·kg‑1、1500mg·kg‑1，溶液pH 5.6；(3)、将凤梨植株种植在混有不同浓度的Pb2+培养基质和不含Pb2+的培养基质上，每个处理重复三次，种植前充分灌溉培养液至基质达到80％饱和湿度，保持温度白天22°C～28°C，夜间19°C～21°C；湿度白天70％～80％，夜间80％～90％；光照条件为自然光；每周浇灌1次N：P：K比例为2：1.5：2的水溶性液体肥料，pH值5.5～6.0；(4)、培养一段时间后，进行Pb(NO3)2药剂处理，药剂处理培养5d后开始测定生理指标，以后每隔5d测量1次，即第5d，10d，15d各测1次。