[发明专利]绝对波长校准仪无效
| 申请号： | 201210484056.X | 申请日： | 2012-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN102928094A | 公开（公告）日： | 2013-02-13 |
| 发明（设计）人： | 张海波;袁志军;周军;楼祺洪;魏运荣 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J9/00 | 分类号： | G01J9/00 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 张泽纯 |
| 地址： | 201800 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种绝对波长校准仪，由校准光源、待测光源、第一光纤、第二光纤、光纤耦合器、第三光纤、小孔、抛物面高反镜、光栅、成像透镜、线性光电探测器和电脑组成。本发明采用光纤耦合器将校准光源和待测光源输入到测量系统，有效地解决了空间对准和光路同轴的问题，并降低了波长校准仪的空间尺寸。根据待测波长与校准光源在线性光电探测器上成像的距离、成像透镜的焦距和光栅常数可得到待测光源的绝对波长。本发明可精确、方便地校准波长计或光谱仪的波长。 | ||
| 搜索关键词： | 绝对 波长 校准 | ||
【主权项】：
一种绝对波长校准仪，其特征在于该校准仪由校准光源（1）、待测光源（2）、第一光纤（3）、第二光纤（4）、光纤耦合器（5）、第三光纤（6）、小孔（7）、抛物面高反镜（8）、光栅（9）、成像透镜（10）、线性光电探测器（11）和电脑（12）组成，上述各部分的位置关系如下：所述的校准光源（1）和待测光源（2）分别经第一光纤（3）和第二光纤（4）与所述的光纤耦合器（5）的输入端相连，该光纤耦合器（5）的输出的耦合光束经第三光纤（6）传输到所述的小孔（7）处，由该小孔（7）发散的光束经所述的抛物面高反射镜（8）扩束和准直后入射到所述的光栅（9），所述的校准光源（1）和待测光源（2）经该光栅（9）的衍射后经所述的成像透镜（10）成像在所述的线性光电探测器（11）上，所述的电脑（12）对校准光源（1）和待测光源（2）的光斑在线性光电探测器（11）上成像的像素位置分别进行读取和记录，进行数据处理，得到待测光源（2）的绝对波长。
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