[发明专利]L吸收边密度计有效
| 申请号： | 201210470798.7 | 申请日： | 2012-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN102967530A | 公开（公告）日： | 2013-03-13 |
| 发明（设计）人： | 郑维明;宋游;陈晨;刘桂娇;吴继宗;康海英 | 申请（专利权）人： | 中国原子能科学研究院 |
| 主分类号： | G01N9/24 | 分类号： | G01N9/24 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102413 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种利用X射线透过材料并测量吸收来分析材料的装置。为解决现有技术中存在的安装不便，检修、维修困难等问题，本发明提供了一种L吸收边密度计，包括手套箱主箱、分析副箱以及计算机数据采集与处理系统，分析副箱和计算机数据采集与处理系统位于手套箱主箱外部；手套箱主箱与分析副箱相连通，并装有用于隔离的闸门；分析副箱包括X光源系统、前光栏、样品池、后光栏和探测器多道系统；X光源系统与样品池之间、样品池与探测器多道系统之间均采用窗口隔离；分析副箱通过无线方式与计算机数据采集与处理系统进行通讯。本发明的L吸收边密度计易于安装，检修、维修以及X光管更换均十分方便，电子学部件无腐蚀问题，并且满足防护的要求。 | ||
| 搜索关键词： | 吸收 密度计 | ||
【主权项】：
一种L吸收边密度计，其特征在于：包括手套箱主箱（1）、分析副箱（2）以及计算机数据采集与处理系统（6），分析副箱（2）和计算机数据采集与处理系统（6）位于手套箱主箱（1）外部；手套箱主箱（1）与分析副箱（2）相连通，并装有用于隔离的闸门（3）；分析副箱（2）包括X光源系统（7）、前光栏（9）、样品池（10）、后光栏（11）和探测器多道系统（13）； X光源系统（7）与样品池（10）之间、样品池（10）与探测器多道系统（13）之间均采用窗口隔离；分析副箱（2）通过无线方式与计算机数据采集与处理系统（6）进行通讯。
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