[发明专利]大景深三维纳米分辨成像方法、光学组件及成像系统有效

专利信息
申请号: 201210467807.7 申请日: 2012-11-19
公开(公告)号: CN102980875A 公开(公告)日: 2013-03-20
发明(设计)人: 于斌;陈丹妮;牛憨笨;李恒 申请(专利权)人: 深圳大学
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01B11/00;G02B21/36;G02B27/22
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 张全文
地址: 518000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明适用于显微成像技术领域,提供了一种大景深三维纳米分辨成像方法,包括下述步骤:创建具有双螺旋点扩散函数和离焦光栅多阶成像性质的光学模块;通过光学模块对待测分子进行成像,获得双螺旋图像;通过双螺旋图像中双螺旋旁瓣的中点的位置确定待测分子的横向位置;通过双螺旋图像中双螺旋旁瓣的中心连线的旋转角度及双螺旋旁瓣的中点位置确定待测分子的轴向位置。本发明将双螺旋点扩散函数及离焦光栅多阶成像的双重效应相结合,既扩大了景深,又提高了分辨率,该方法可用于完整细胞内任意深度亚细胞的动态范围成像,可获得多个运动分子的动态功能图像,对于在更高水平上认识亚细胞结构与细胞功能变化的关系和规律具有重要意义。
搜索关键词: 景深 三维 纳米 分辨 成像 方法 光学 组件 系统
【主权项】:
一种大景深三维纳米分辨成像方法,其特征在于,包括下述步骤:创建具有双螺旋点扩散函数和离焦光栅多阶成像性质的光学模块;通过所述光学模块对待测分子进行成像,获得待测分子的双螺旋图像;通过所述双螺旋图像中双螺旋旁瓣的中点在成像面上的位置确定待测分子的横向位置;通过所述双螺旋图像中双螺旋旁瓣的中心连线的旋转角度及所述双螺旋旁瓣的中点在成像面上的位置确定待测分子的轴向位置。
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