[发明专利]一种磁场天线的本底噪声测量方法有效
| 申请号： | 201210432068.8 | 申请日： | 2012-11-02 |
| 公开（公告）号： | CN102928713B | 公开（公告）日： | 2017-09-19 |
| 发明（设计）人： | 蔡希昌;王爱敏 | 申请（专利权）人： | 北京美尔斯通科技发展股份有限公司;北京超导园科技企业孵化器有限公司;北京斯奎德量子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京国帆知识产权代理事务所(普通合伙)11334 | 代理人： | 龙涛 |
| 地址： | 100085 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种磁场天线的本底噪声测量方法，采用测量加数学计算结合的方式，利用一致性较好的两根天线和谱密度计算方法，得到等效的天线输出电压噪声信号，其特征在于，其步骤包括标定天线一致性、测量天线输出信号和计算天线电压噪声谱密度。该测量方法不需要额外的测量仪器和屏蔽措施，克服了直接测量天线的本底噪声时磁屏蔽效果差、测量结果不准确的缺陷，同时该方法适合不同灵敏度的天线，特别适合高精度磁场天线的本底噪声测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 磁场 天线 本底 噪声 测量方法 | ||
【主权项】：
一种磁场天线的本底噪声测量方法，采用测量加数学计算结合的方式，利用一致的两根天线和谱密度计算方法，得到等效的天线输出电压噪声信号，其特征在于，其步骤包括：标定天线一致性、测量天线输出信号和计算噪声电压谱密度，标定天线一致性的方法：选取两根一致的天线，在屏蔽室内测量两根天线的响应，扫频测量两根天线的幅频和相频响应；测量天线输出信号的方法：在保证天线输入信号一致、磁场变化稳定的环境下，记录两根天线同一时刻的输出信号；计算噪声电压谱密度时采用功率谱估计Welch算法，功率谱密度平均值除以2并开方得到电压谱密度。
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