[发明专利]一种集成电路的故障检测方法

摘要

本发明公开了一种集成电路的故障检测方法。所述检测方法通过蒙特卡洛仿真逐一得到每个元件标称参数容差范围内的输出概率密度函数，并分别与各元件标称参数下被测集成电路的输出概率密度函数进行运算，得到互熵值；互熵值的最大数值者作为电路最大互熵，最小数值者作为电路最小互熵；然后将无故障被测集成电路的实测输出概率密度函数，与未知故障被测集成电路的实测输出概率密度函数进行运算，得到实测互熵值；最后通过实测互熵值与电路最大互熵和电路最小互熵进行比较，确定被测集成电路是否存在故障。与现有技术相比，本发明要求测试节点少、测试过程简捷、测试成本低、对噪声不敏感。

主权项

一种集成电路的故障检测方法，其特征在于：所述集成电路的故障检测方法步骤如下：（1）将被测集成电路的各个元件参数设置为标称参数，对该被测集成电路进行仿真，得到各元件标称参数下被测集成电路的输出概率密度函数；（2）针对被测集成电路的所有元件，逐一选取其中一个元件进行以下a) ‑ c)步骤：a)在被选元件标称参数的容差范围内，对该被选元件进行蒙特卡洛仿真，此时除该被选元件外，被测集成电路的其它元件的参数设置为标称参数，得到该被选元件的、与前述蒙特卡洛仿真次数相同个数的输出概率密度函数；b)将该被选元件的、与前述蒙特卡洛仿真次数相同个数的输出概率密度函数分别和步骤（1）中得到的各元件标称参数下被测集成电路的输出概率密度函数进行运算，得到与前述蒙特卡洛仿真次数相同个数的互熵值；c)在得到的与前述蒙特卡洛仿真次数相同个数的互熵值中，选择数值最大者作为该被选元件的互熵上界，选取数值最小值作为该被选元件的互熵下界；最终得到被测集成电路的各元件的互熵上界和互熵下界；（3）在步骤（2）中得到的被测集成电路的各元件的互熵上界中，挑选数值最大者作为整个被测集成电路的电路最大互熵；在步骤（2）中得到的被测集成电路的各元件的互熵下界中，挑选数值最小者作为整个被测集成电路的电路最小互熵；（4）对无故障的被测集成电路进行实测，得到该无故障被测集成电路的实测输出概率密度函数；（5）对未知故障的被测集成电路进行实测，得到该未知故障被测集成电路的实测输出概率密度函数；（6）将步骤（4）中得到的无故障被测集成电路的实测输出概率密度函数，与步骤（5）中得到的未知故障被测集成电路的实测输出概率密度函数进行运算，得到实测互熵值；（7）将步骤（6）中得到的实测互熵值，与步骤（3）中得到的电路最大互熵和电路最小互熵进行比较；如果实测互熵值大于电路最小互熵、同时小于电路最大互熵，那么该未知故障被测集成电路则无故障；如果实测互熵值小于等于电路最小互熵，或者大于等于电路最大互熵，那么该未知故障被测集成电路则存在故障。