[发明专利]电路测试系统及电路测试方法有效
| 申请号： | 201210384861.5 | 申请日： | 2012-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN103592594A | 公开（公告）日： | 2014-02-19 |
| 发明（设计）人： | 郑文昌 | 申请（专利权）人： | 南亚科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 臧建明 |
| 地址： | 中国台湾桃园县龟山*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种电路测试系统及电路测试方法，该电路测试系统包括电路测试设备以及待测试电路。电路测试设备提供第一时钟信号。待测试电路包括多个输入/输出垫以及至少一个时钟垫。输入/输出垫中的至少两个输入/输出垫相互连接以在测试模式期间形成测试回路。时钟垫接收第一时钟信号。待测试电路使第一时钟信号的频率倍增以产生第二时钟信号，且待测试电路的测试回路在测试模式期间基于第二时钟信号而测试。第二时钟信号的频率高于第一时钟信号的频率。此外，还提供前述电路测试系统的电路测试方法。 | ||
| 搜索关键词： | 电路 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种电路测试系统，其特征在于，包括：电路测试设备，其提供第一时钟信号；以及待测试电路，其耦接到所述电路测试设备，其中所述待测试电路包括：多个输入/输出垫，其中所述输入/输出垫中的至少两个第一输入/输出垫相互连接以在第一测试模式期间形成第一测试回路；以及至少一个第一时钟垫，其接收所述第一时钟信号，其中所述待测试电路使所述第一时钟信号的频率倍增以产生第二时钟信号，且所述待测试电路的所述第一测试回路在所述第一测试模式期间基于所述第二时钟信号而测试。
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