[发明专利]集成电路测试系统及集成电路测试系统的控制方法无效
| 申请号： | 201210354247.4 | 申请日： | 2012-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN102854455A | 公开（公告）日： | 2013-01-02 |
| 发明（设计）人： | 徐正元 | 申请（专利权）人： | 成都市中州半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G05B19/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 611731 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路测试系统，包括一控制设备、一与所述控制设备相连的测试仪、一与所述测试仪相连的负载板、一与所述负载板相连的自动测试机、一与所述自动测试机相连的被测器件。本发明还公开了一种集成电路测试系统的控制方法，本发明的实现，解决了测试仪和测试负载板之间的布线问题，降低了测试成本，提高了测试效率及测试结果输出的正确性。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 系统 控制 方法 | ||
【主权项】：
一种集成电路测试系统，包括一控制设备、一与所述控制设备相连的带无线通讯模块的测试仪、一与所述带无线通讯模块的测试仪相连的带无线通讯模块的负载板阵列、一与所述带无线通讯模块的负载板阵列相连的自动测试机阵列、一与所述自动测试机阵列相连的被测器件阵列，所述带无线通讯模块的负载板阵列包括N个带无线通讯模块的负载板，所述自动测试机阵列包括N个自动测试机，所述被测器件阵列包括N个被测器件，其中N≥1。
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