[发明专利]一种多核处理器的JTAG调试方法

摘要

一种多核处理器的JTAG调试方法，在各个处理器核的标准测试接入端口控制器和仿真器JTAG调试接口之间连接多路测试接口控制器，调试方法包括如下步骤：第一步：系统上电，多路测试接入端口控制器的功能状态机进入测试逻辑复位状态；第二步：发送调试指令，经过仿真器JTAG调试接口输出特定的TCK、TDI、TMS信号，使得状态控制模块依次进入各个状态；第三步：发送选择信号，配置控制寄存器；第四步：延时一个时钟周期之后，控制寄存器中的信息被加载到状态寄存器；第五步：完成对处理器核的选择后，发送调试指令，进行单核处理器调试过程。本发明有效完成各个处理器核的选择控制和调试信息存储反馈、提升可靠性。

主权项

一种多核处理器的JTAG调试方法，其特征在于：在各个处理器核的标准测试接入端口控制器和仿真器JTAG调试接口之间连接多路测试接口控制器，所述多路测试接口控制器由状态控制模块和调试控制模块组成；所述调试方法包括如下步骤：第一步：系统上电，多路测试接入端口控制器的功能状态机进入测试逻辑复位状态；第二步：发送调试指令，经过仿真器JTAG调试接口输出特定的TCK、TDI、TMS信号，使得状态控制模块依次进入：测试进行状态、选择数据扫描寄存器状态、选择指令扫描寄存器状态、捕获指令状态、移入指令状态、退出指令1状态、更新指令状态，最后回到测试进行状态；在捕获指令状态中，一个编码序列被加载到指令寄存器当中；然后进入到移入指令状态，在移入指令状态下，通过TCK的驱动，将TDI输入的选择指令送到边界扫描寄存器当中去，然后在更新指令状态，输入到边界扫描扫描寄存器中的选择指令用来更新指令寄存器，最后，进入到测试进行状态，指令生效，完成对多路调试接口控制器的指令寄存器的访问；所述选择指令被指令译码器译码，产生内部选择信号选中控制寄存器，并产生配置信号使控制寄存器进入控制寄存器配置模式；第三步：发送选择信号，配置控制寄存器；第四步：延时一个时钟周期之后，控制寄存器中的信息被加载到状态寄存器，状态寄存器中的信息经译码器产生的译码信号控制第一多路选择器把JTAG调试接口输出的TDI信号和TMS信号传给选定的处理器核；而被选中的处理器核的DTO信号也在译码信号控制下 经过第二多路选择器传递回多路测试接口控制器；多路测试接口控制器中的状态信息和传入的TDO信号在状态寄存器读取信号控制下经过第三多路选择器传递回JTAG调试接口；第五步：完成对处理器核的选择后，发送调试指令，进行单核处理器调试过程。