[发明专利]位移传感器构造有效

专利信息
申请号: 201210315341.9 申请日: 2012-06-13
公开(公告)号: CN102865817A 公开(公告)日: 2013-01-09
发明(设计)人: J·D·托拜厄森 申请(专利权)人: 株式会社三丰
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01D5/38
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 赵国荣
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种位移传感器构造,该位移传感器构造包括设置在第一方向上的标尺光栅;以及标尺光成像构造,包括第一和第二光路以及包含第一和第二检测器部分的检测器。成像部分沿第一光路输入由标尺光栅输出的第一标尺光分量,并向第一检测器部分传输第一标尺光分量,成像部分沿第二光路输入由标尺光栅输出的第二标尺光分量,并向第二检测器部分传输第二标尺光分量,第一检测器部分配置为输出指示沿第一方向的位移的第一位移信号,第二检测器部分配置为输出指示沿与第一方向垂直的第二方向的位移的第二位移信号。
搜索关键词: 位移 传感器 构造
【主权项】:
一种位移传感器构造(100、300、400),包括:标尺光栅(110),包括设置在第一方向(X)上的光栅条(118),每个所述光栅条在实质上垂直于所述第一方向的第二方向(Y)上延伸,且所述标尺光栅定义对应于衍射级角组(θ1、θ2、θ3)的衍射面组(111、112、113),该衍射级角组与垂直入射到所述标尺光栅上的平面波相对应;以及标尺光成像构造(120),包括:照明部分(160),配置为向所述标尺光栅提供照射光,且所述平面波和所述照射光具有相同的波长;成像构造(190),包括第一光路和第二光路(OP1、OP2);以及检测器(200),包括第一检测器部分和第二检测器部分(201、202),其中:所述位移传感器构造配置为从所述标尺光栅输出第一标尺光分量到所述成像构造,并且配置为沿着所述第一光路输出所述第一标尺光分量到所述第一检测器部分,所述位移传感器构造配置为从所述标尺光栅输出第二标尺光分量到所述成像构造,并且配置为沿着所述第二光路输出所述第二标尺光分量到所述第二检测器部分,而且在所述标尺光栅附近,所述第二光路相对于与所述标尺光栅垂直的方向以一角度倾斜,该角度定义在包括垂直于所述标尺光栅的所述方向和所述第一方向的平面中,所述第一检测器部分配置为接收沿着所述第一光路传输的所述第一标尺光分量并输出第一位移信号,该第一位移信号至少包括第一信号分量,该第一信号分量指示所述标尺光成像构造相对于所述标尺光栅沿着所述第一方向的位移,并且所述第二检测器部分配置为接收沿着所述第二光路传输的所述第二标尺光分量并输出第二位移信号,该第二位移信号包括所述第一信号分量和第二信号分量,该第二信号分量指示所述标尺光成像构造相对于所述标尺光栅沿着第三方向(Z)的位移,所述第三方向垂直于所述第一方向和所述第二方向。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社三丰,未经株式会社三丰许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210315341.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top