[发明专利]一种基于MP小波滤波的零件尺寸检测方法及其检测系统无效

专利信息
申请号: 201210312205.4 申请日: 2012-08-29
公开(公告)号: CN102901444A 公开(公告)日: 2013-01-30
发明(设计)人: 戴华平;钱嘉伟;黄满金;沈非凡 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G06F17/50
代理公司: 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 代理人: 胡红娟
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种基于MP小波滤波的零件尺寸检测方法,包括:(1)对CCD摄像机进行标定;(2)采集零件图像,对图像进行MP小波滤波;(3)对图像进行微分算子边缘检测;(4)对边缘像素进行亚像素边缘检测;(5)根据亚像素坐标计算零件的尺寸,进而生成CAD图。本发明方法通过对零件图像进行MP小波滤波,同时对滤波后的图像进行亚像素边缘检测,根据亚像素坐标计算提取零件的尺寸,能够相应提高检测精度,加快检测速度。本发明还公开了基于上述检测方法的检测系统,包括图像采集单元、图像处理单元和图像生成单元;本发明系统利用摄像机结合PC机可以实时对流水线上的零件进行图像采集和图像处理,保证了零件检测的时效性。
搜索关键词: 一种 基于 mp 滤波 零件 尺寸 检测 方法 及其 系统
【主权项】:
一种基于MP小波滤波的零件尺寸检测方法,包括如下步骤:(1)对摄像机进行标定,得到像素当量系数;(2)利用摄像机对零件进行图像采集,对采集到的零件图像进行MP小波滤波;(3)对滤波后的零件图像进行基于微分算子的边缘检测,得到零件的边缘梯度图像;(4)对所述的边缘梯度图像中各边缘像素进行亚像素边缘检测,得到各边缘像素的亚像素坐标;(5)根据各边缘像素的亚像素坐标以及像素当量系数,计算出零件的尺寸。
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