[发明专利]一种光束的微小位移测量方法及测量设备有效
| 申请号： | 201210301473.6 | 申请日： | 2012-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN103630075A | 公开（公告）日： | 2014-03-12 |
| 发明（设计）人： | 张朝民;刘玲;曹丽杰 | 申请（专利权）人： | 上海工程技术大学 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 叶敏华 |
| 地址： | 201620 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 发明涉及一种光束的微小位移测量方法及测量设备，该方法包括以下步骤：距离柱面镜中心线所在平面垂直距离x0处的激光投射到柱面镜上，通过柱面镜反射到观测屏上x1处；激光发射器移动微小位移dx后，距离柱面镜中心线所在平面垂直距离x0+dx处的激光投射到柱面镜上，通过柱面镜反射到观测屏上x2处：由公式即可计算出光微小位移dx，式中h为柱面镜中心线到观测屏的距离，r为柱面镜的半径，a、b为常数，a＝r2-x02，b＝2x02-r2；该设备包括激光发射器、三维移动平台、柱面镜及观测屏，激光发射器设在三维移动平台上，柱面镜与激光发射器位于同一高度，观测屏位于激光发射器及柱面镜的侧面。与现有技术相比，本发明结构简单，操作方便，设备造价低，检修维护方便，测量精度更高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光束 微小 位移 测量方法 测量 设备 | ||
【主权项】：
一种光束的微小位移测量方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：(1)距离柱面镜中心线所在平面垂直距离x0处的激光投射到柱面镜上，通过柱面镜反射到观测屏上x1处；(2)激光发射器移动微小位移dx后，距离步骤(1)所述的柱面镜中心线所在平面垂直距离x0+dx处的激光投射到柱面镜上，通过柱面镜反射到观测屏上x2处；(3)由公式 1 / dx = ( 8 h x 0 2 a + b 2 a + 2 h b 2 ) / [ b 2 a ( x 2 - x 1 ) ] - 8 x 0 / b 即可计算出待测的光微小位移dx，式中h为柱面镜中心线到观测屏的距离，r为柱面镜的半径，a、b为常数，a＝r2‑x02，b＝2x02‑r2。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海工程技术大学，未经上海工程技术大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210301473.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
