[发明专利]基于HF第一泛频发射光谱的温度测量方法无效
| 申请号： | 201210295371.8 | 申请日： | 2012-08-17 |
| 公开（公告）号： | CN103592052A | 公开（公告）日： | 2014-02-19 |
| 发明（设计）人： | 唐书凯;多丽萍;李留成;于海军;金玉奇;桑凤亭 | 申请（专利权）人： | 中国科学院大连化学物理研究所 |
| 主分类号： | G01K11/00 | 分类号： | G01K11/00 |
| 代理公司： | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人： | 许宗富 |
| 地址： | 116023 *** | 国省代码： | 辽宁;21 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 基于HF第一泛频发射光谱的温度测量方法。本发明属于温度测量技术领域。本发明的目的是为了解决HF化学激光器超音速流场的温度测量问题，而提出的一种基于HF第一泛频发射光谱的温度测量方法。该方法用近红外光谱仪对HF第一泛频发射光谱信号进行测量，然后用HF第一泛频发射光谱的振-转强度分布公式对所得数据进行数值拟合，从而计算出测量体系的温度。该方法可应用于HF化学激光流场的不同位置（喷管出口、光腔以及光腔下游）和不同阶段（无激光输出和有激光输出）的温度分布测试，并可以推广到产生高振动态HF（V≥2）的其他体系。该方法具有简单、精度高、稳定性好和不干扰测试本体的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 hf 第一 频发 光谱 温度 测量方法 | ||
【主权项】：
一种基于HF第一泛频发射光谱的温度测量方法，其特征在于，对HF第一泛频发射光谱信号进行测量，得到HF第一泛频发射光谱的振‑转强度分布数据；对该分布数据进行数值拟合，得到温度数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院大连化学物理研究所，未经中国科学院大连化学物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210295371.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
