[发明专利]一种电光调制器的半波电压的测量方法及测量系统有效
申请号: | 201210292884.3 | 申请日: | 2012-08-17 |
公开(公告)号: | CN102798750A | 公开(公告)日: | 2012-11-28 |
发明(设计)人: | 付松年;冯振华;唐明;沈平;刘德明 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01R19/00 | 分类号: | G01R19/00 |
代理公司: | 北京市德权律师事务所 11302 | 代理人: | 刘丽君 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明涉及光纤通信外调制技术领域,公开了一种电光调制器的半波电压的测量方法及测量系统。本发明不仅能够消除激光器输出光功率的抖动对电光调制器传输曲线和半波电压测量的影响,使测量到的半波电压数值更加精确,而且实现了快速测量。本发明不仅可以测量电光调制器的直流半波电压,还可测量其射频半波电压。 | ||
搜索关键词: | 一种 电光 调制器 电压 测量方法 测量 系统 | ||
【主权项】:
一种电光调制器的半波电压的测量方法,其特征在于,包括:将直流偏压或射频调制信号与扰动信号合成后送入电光调制器;提取出从电光调制器输出的所述扰动信号的至少两种奇或偶谐波分量;通过所述两种谐波分量幅度的比值、扰动信号的幅度与半波电压的关系计算得到半波电压。
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