[发明专利]一种薄膜电容器寿命预测方法

摘要

本发明公开了一种薄膜电容器寿命预测方法，其主要是根据薄膜电容器的实际使用条件，包括使用场所的温度、湿度、电容器所承受的电流波形、电压波形及频率，通过采用可编程温湿度控制箱模拟电容器的工作环境条件，采用专用信号发生器产生同电容器工作时相同的电流电压波形，通过加速试验方法，和对试验前后电容器参数变化量的计算，利用理论公式和经验公式对电容器的寿命进行预测。本发明测试时间短且测试结果准确、可靠。

主权项

一种薄膜电容器寿命预测方法，其特征在于：包括如下试验步骤：A、利用温度计和湿度计对需要测试的薄膜电容器的使用环境的温度、湿度进行测定并记录在案；B、对需要测试的薄膜电容器实际工作时的电流、电压、频率和波形进行了解或测量，利用信号发生器产生与薄膜电容器工作电压、电流频率和波形一致的电信号；C、根据步骤A、B步骤中薄膜电容器的温度、湿度和薄膜电容器工作是的电压、电流、波形及频率，结合电容器的材质和自身特性，确定好试验方案，方案内容包括试验时采用的温度、湿度、电压、电流、波形及频率和试验时间，根据上述参数简历寿命预测的数学模型；D、将需要测试的薄膜电容器进行编号；E、将步骤D已经编完号的薄膜电容器进行电参数测试、记录好每只电容器的测试值；F、将测试好的薄膜电容器放置在夹具上，将夹具和薄膜电容器一起放入可编程温湿度控制箱，开启可编程温湿度控制箱电源，根据实验方案做好温度、湿度编程，待可编程温湿度控制箱内温度、湿度达到步骤C中的温度和湿度时开启信号发生器，将步骤C中预定的温度、湿度、电压、电流、波形及频率施加到薄膜电容器上，开始计时，试验过程中对失效电容器的编号和失效时间进行记录；G、到步骤C中的试验时间后关闭可编程温湿度控制箱和信号发生器，取出试验产品，在常温下放置4小时以上，对电容器参数进行测试； H、根据试验过程中电容器失效的时间数量和未失效电容器参数变化量，利用试验方案中建立的数学模型，对电容器的寿命进行预测。